現今，半導體行業中大部分采用聚焦離子束制備樣品，然后在專用的光學顯微鏡下，采用帶靜電的玻璃針，將樣品取出并放在碳膜銅網上。碳膜銅網很薄，且直徑僅為3毫米，所以碳膜銅網的夾取是否可靠直接關系到TEM的樣品是否**。現今市場上用于夾取碳膜銅網的鑷子一般具有細而尖的末端，鑷子的兩個末端分別與碳膜銅網正反兩個表面壓緊。Dumont銅網鑷子主要存在以下幾個問題

    1.鑷子夾取樣品時很容易將碳膜戳破，導致TEM樣品的遺失，或者是碳膜表面的不平整導致TEM樣品無法觀測；

    2.碳膜銅網尺寸很小，鑷子夾取時力度很難控制，易導致其掉落；

    3.鑷子的**很細長，很容易在操作的過程中戳到人，對人存在一個潛在的威脅。